绝缘子介电常数测试仪-介质损耗因数参数：
工作频率范围：50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器
Q值测量范围：1～1000三位数显，±1Q分辨率
可调电容范围：40～500 pF ΔC±3pF
电容测量误差：±1%±1pF
Q表残余电感值：约20nH
tanδ和ε测量精度（1MHz）：tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
tanδ和ε测量范围：tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
anδ和ε性能：固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。
绝缘子介电常数测试仪-介质损耗因数特点：
◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。
◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
装置：
2.3.1 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4
液体介电常数测定仪 低频介电常数测试仪高频介电常数测试仪 、塑料介电常数测试仪、聚乙烯介电常数测定仪、硅橡胶介电常数测定仪、橡胶介电常数测定仪、材料介电常数测定仪、薄膜介电常数测定仪、聚酯薄膜介电常数测试仪、聚合物介电常数测量仪、介电常数及介质损耗测试仪
介电常数的简介：
介电常数测量技术在民用，工业以及军事等各个领域应用广泛。本文主要对介电常数测量的常用方法进行了综合论述。首先对国家标准进行了对比总结；然后分别论述了几种常用测量方法的基本原理、适用范围、优缺点及发展近况；后对几种测量方法进行了对比总结，得出结论。介电常数是物体的重要物理性质，对介电常数的研究有重要的理论和应用意义。电气工程中的电介质问题、电磁兼容问题、生物医学、微波、电子技术食品加工和地质勘探中，无一不利用到物质的电磁特性，对介电常数的测量提出了要求。目前对介电常数测量方法的应用可以说是遍及民用、工业、国防的各个领域在食品加工行业当中，储藏、加工、灭菌、分级及质检等方面都广泛采用了介电常数的测量技术。例如，通过测量介电常数的大小，新鲜果蔬品质、含水率、发酵和干燥过程中的一些指标都得到间接体现，此外，根据食品的介电常数、含水率确定杀菌时间和功率密度等工艺参数也是重要的应用之一[1]。在路基压实质量检测和评价中，如果利用常规的方法，尽管测量结果比较准确，但工作量大、周期长、速度慢且对路面造成破坏。由于土体的含水量、温度及密度都会对其介电特性产生不同程度的影响，因此可以采用雷达对整个区域进行测试以反算出介电常数的数值，通过分析介电性得到路基的密度及压实度等参数，达到快速测量路基的密度及压实度的目的[2]。此外，复介电常数测量技术还在水土污染的监测中得到了应用[3]。并且还可通过对岩石介电常数的测量对地震进行预报[4]。上面说的是介电常数测量在民用方面的部分应用，其在工业上也有重要的应用。典型的例子有低介电常数材料在超大规模集成电路工艺中的应用以及高介电常数材料在半导体储存器件中的应用。在集成电路工艺中，随着晶体管密度的不断增加和线宽的不断减小，互联中电容和电阻的寄生效应不断增大，传统的绝缘材料二氧化硅被低介电常数材料所代替是必然的。目前Applied Materials 的BlackDiamond 作为低介电常数材料，已经应用于集成电路的商业化生产[5]。在半导体储存器件中，利用高介电常数材料能够解决半导体器件尺寸缩小而导致的栅氧层厚度极限的问题，同时具备特殊的物理特性，可以实现具有特殊性能的新器件[6]。在军事方面，介电常数测量技术也广泛应用于雷达和各种特殊材料的制造与检测当中。对介电常数测量技术的应用可以说是不胜枚举。介电常数的测量技术已经广泛应用于民用、工业和国防各个领域，并且有发展的空间和必要性。我们对测量介电常数的方法进行总结，能更清晰的认识测量方法的现状，为某些应用提供一种可能适合的方法，是有一定理论和工程应用意义的。.介电常数测量方法综述介电常数的测量按材质分类可以分为对固体、液体、气体以及粉末(颗粒)的测量[7]。固体电介质在测量时应用为广泛，通常可以分为对固定形状大小的固体和对形状不确定的固体的测量。相对于固体，液体和气体的测试方法较少。对于液体，可以采用波导反射法测量其介电常数，误差在5%左右[8]。此外国家标准中给出了在90℃、工频条件下测量液体损耗角正切及介电常数的方法[9]。对于气体，具体测试方法少且精度都不十分高。文献[10]中给出一种测量方法，以测量共振频率为基础，在LC 串联谐振电路中产生震荡，利用数字频率计测量谐振频率，不断改变压强和记录当前压强下谐振频率，后用作图或者一元线性回归法处理数据，得到电容变化率进而计算出相对介电常数。表1 是测量固体介电常数的国家标准方法(不包括废止的方法)及其对频率、介电常数范围、材料等情况的要求。如表1 所示，国家标准中已经对微扰法和开式腔法的过程做了详细介绍，然而对适用频率和介电常数的范围都有所限制。所以在不同材料，不同频率的情况下，国家标准也给出了相应的具体测量方法。可见，上面所分析的方法并不是可以随便套用的。在不同的系统、测量不同的材料、所要求的频率不同的情况下，需要对其具体问题具体分析，这样才能得出准确的方法。国家标准测量方法覆盖的频率为50 MHz 以下和100 MHz 到30 GHz，可以说是一个较广的频率覆盖范围，但是不同范围适用的材料和环境等都有所不同。介电常数的覆盖范围是2 到100，接近1 的介电常数和较高介电常数的测量方法比较稀缺，损耗普遍在10−3 到10−4 的数量级上。3. 测量介电常数的几种主要方法从总体来说，目前测量介电常数的方法主要有集中电路法、传输线法、谐振法、自由空间波法等等。其中，传输线法、集中电路法、谐振法等属于实验室测量方法，测量通常是在实验室中进行，要求具有相应的样品采集技术。另外对于已知介电常数材料发泡后的介电常数通常用经验公式得到[26]。下面，分别对这几种方法的原理、特点和发展现状等做分别阐述。3.1. 集中电路法集中电路法是一种在低频段将有耗材料填充电容，利用电容各参数以及测量得到的导纳推出介电常数的一种方法。其原理公式为：
其中， Y 为导纳， A 为电容面积， d 为极板间距离，e0 为空气介电常数，ω 为角频率。为了测量导纳，通常用并联谐振回路测出Q 值(品质因数)和频率，进而推出介电常数。由于其频率会受到小电感的限制，这种方法的高频率一般是100 MHz。小电感一般为10 nHz 左右。如果电感过，高频段杂散电容影响太大。如果频率过高，则会形成驻波，改变谐振频率同时辐射损耗骤然增加。但这种方法并不适用于低损材料。因为这种方法能测得的Q 值只有200 左右，使用网络分析仪测得tand 也只在10−4 左右。这种方法不但准确度不高，而且只能测量较低频率，在现有通信应用要求下已不应用。
自由空间法
自由空间法其实也可算是传输线法。它的原理可参考线路传输法，通过测得传输和反射系数，改变样
品数据和频率来得到介电常数的数值。图2 为其示意图。
自由空间法与传输线法有所不同。传输线法要求波导壁和被测材料*接触，而自由空间法克服了这
个缺点[38]。自由空间法保存了线路传输法可以测量宽频带范围的优点。自由空间法要求材料要有足够的损耗，否则会在材料中形成驻波并且引起误差。因此，这种方法只适用于高于3 GHz 的高频情况。其频率可以达到100 GHz。
六端口测量技术
另外，还有一种方法为六端口测量技术。其测量系统如图3。在未填充介质样品时，忽略波导损耗，短路段反
